TinREAD! |

Contribuții la analiza și dezvoltarea circuitelor pentru testarea structurilor analogice integrate

LDR:00447nam0 2200145 450 001 320375
010 $a 978-973-621-368-7
100 $a 20201006u m y0rumy5001 ba
101 0 $a rum
200 1 $a Contribuții la analiza și dezvoltarea circuitelor pentru testarea structurilor analogice integrate $b Carte tipărită $f Nicolae Cojan
210 # # $a Iași $L s17433 $c Politehnium $d 2011
215 $a 179 p.
300 $a Bibliogr.
606 $3 139569 $a circuite integrate
606 $3 140087 $a circuite digitale
606 $3 181853 $a buffer de test
606 $3 181854 $a testarea filtrelor
675 $a 621.3.049.77
679 $a 62 $d 62/64; 66/69
700 0 $3 181624 $4 070 $a Cojan $b Nicolae
801 3 $a RO $b BJVL